Химический анализ
|
Оптический эмиссионный спектрометр «ARL 3460 Quantris»
Анализируемые материалы: твердые монолитные токопроводящие материалы на железной, медной, алюминиевой и титановой основах. Размер образцов: от 15 до 70 мм, высота от 2 до 50 мм; диапазон измеряемых концентраций: 0,0001 - 50 %; Погрешность измерений концентраций: менее 1,0 %. |
|
|
Микроанализатор EDS X-Act (Oxford Instruments) на растровом электронном микроскопе
Si-drift детектор 10 мм2; анализ элементов B – U; разрешение по Mn Ka = 133 эВ; Функции картирования и анализа вдоль линии. Спектрометр дисперсий по длине волны INCA Wave 700 (5 кристаллов) Микроанализ приблизительно в десять раз более чувствительный по сравнению с ЭДС. Анализ элементов-примесей (< 0.1 - <0.01%); спектральное разрешение от 2-3 до 50 эВ – на порядок лучше ЭДС; разделение близко расположенных пиков; точная идентификация пиков; наилучшая чувствительность для анализа легких элементов; рентгеновское картирование с наилучшим отношением пик/фон |
|
|
Приставка для химического анализа EDAX на просвечивающем электронном микроскопе Кремний-литиевый детектор; регистрация всех элементов, начиная от бериллия; Разрешение пр энергиям 136 эВ Рабочая площадь детектора 30 мм2 |
|
