Структурные исследования

Световые микроскопы Работа в светлом и тёмном поле. Работа в режиме DIC.  Диапазон увеличений: 25 – 1500. Фотокамера AxioCam MRc5: 5 Мп.  Модули для автоматического определения размера зерна и содержания второй фазы и др.
Растровый электронный микроскоп Ускоряющее напряжение 0,2 – 30 кВ; разрешение: 3 нм Детекторы вторичных и обратнорассеянных электронов Работа в низком вакууме. Максимальный размер образца 200х200х100 мм Микроанализаторы EDS и WDS
Просвечивающий электронный микроскоп Ускоряющее напряжение 20-200 кВ; Разрешающая способность по точкам режим ПЭМ не хуже 0,27 нм; Разрешающая способность по линиям режим ПЭМ не хуже 0,14 нм Структурные исследования, фазовый микроанализ
Рентгеновский дифрактометр Излучение- Cu (la= 1,5406 ангстрем, возможность работы на lb), мощность трубки – 2,2 кВт, энергодисперсионный детектор Si(Li), максимальный угол 2q = 164о, q-q геометрия съёмки. Есть возможность локального анализа области диаметром 1 мм.  Приставка для проведения нагрева